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原理与知识 2026-10-20 · 阅读约 5 分钟

什么是光谱共焦传感器:一条光路里的微型光谱仪

光谱共焦 传感器 粗糙度

在光学量测的家族里,光谱共焦(Chromatic Confocal)是最被低估的一位。它的名字里没有「膜厚」也没有「粗糙度」,但它同时是两类仪器的核心:高精度位移/形貌传感器的探头,和透明膜测厚的一把好手。这篇把它讲清楚。

核心原理一句话:让不同波长的光聚焦在光轴上不同的高度,再用共焦针孔挑出「恰好聚焦在样品表面」的那个波长。具体的光路是,宽谱光源经过一组色散物镜,一组被刻意设计成强色差的透镜,蓝光聚焦得近,红光聚焦得远,沿光轴排开。打到样品表面反射回来,只有波长与表面高度对应的那个成分能完美聚焦、顺利穿过共焦针孔到达光谱仪;其他波长失焦,被针孔挡掉大半。光谱仪读出返回光最强的峰值波长,查标定曲线就得到表面高度。深度信息被编码成了波长,这就是「光谱共焦」四个字的含义。

这套机制带来几个很实在的特性。其一,它是一个点传感器:一个光斑测一个高度点,精度高但需要逐点扫描来获得形貌图。其二,工作距离内的高度分辨率可以做到纳米量级,横向光斑在微米级。其三,对样品的宽容度高:镜面可以,漫反射的粗糙表面也可以(散射光里同样包含峰值波长信息);平面可以,斜面和曲面也行,倾斜容忍度通常有几十度。其四,环境光抑制好,因为信号是按波长编码的,杂光很难伪装成有效的峰值。

深度被编码成波长
深度被编码成波长

对膜系工程师来说,最有趣的特性是它测透明膜的方式。光从膜层上表面和下表面各反射一次,光谱上出现两个峰:两个峰的波长差对应光程差,乘上膜层折射率并做折射修正后就是几何厚度。白光干涉测透明膜用的是干涉条纹,光谱共焦用的是峰间距,两者物理相通而实现路径不同。光谱共焦这条路对较厚的膜(微米到毫米级)尤其顺手,胶层、玻璃、涂层测厚是它的传统强项。

它的限制也要说清楚:逐点扫描意味着大面积形貌图的获取速度受平台速度限制;厚度测量精度受材料折射率已知度和两峰分离度约束,超薄膜(几十纳米)的两峰会重叠,那是椭偏和反射式拟合的地盘。选型时按「点精度高、逐点扫描、厚膜透明层」这三个关键词对号入座,就不会错位。

关于悉识科技(Acuitik)

悉识科技专注光学精密测量技术,以「非接触、无损、亚纳米级精度」的反射式膜厚仪、椭偏仪和 OEM 膜厚传感器为核心产品:

  • 工业级膜厚测量 NS 系列:NS-20 手动、NS-30 Mapping 自动、NS-Micro 显微、NS-Touch 曲面、NS-HR 厚膜、NS-100 高速线扫
  • 科研级测量 ES 系列:ES-Tenso 椭偏仪、ES-Primo 多波长椭偏仪(面向超薄膜与复杂多层膜),另有 NS-Vista 双通道与 NS-Flex 便携多模态
  • OEM 膜厚传感器:多点纳米膜厚、NS-HR 厚膜、NS-Micro 显微传感器模组,支持 Modbus / OPC UA 对接 PLC 与 MES,提供 SDK

仪器经中国计量院、上海计量院计量认证,并参与起草团体标准 T/CIET 2298-2026《薄膜干涉膜厚测量系统校准规范》。更多选型资料与应用笔记,请访问悉识科技官网。