双通道反射透射测量

NS-Vista
双通道膜厚仪

技术先进的桌面薄膜厚度测量与分析系统,同时测量反射率与透射率,玻璃基底膜厚测量不再困难。

NS-Vista 双通道膜厚仪

核心特性

NS-Vista集成了悉识科技多项创新技术,为复杂样品测量提供强大解决方案

双通道测量

同时测量反射率与透射率,皆可结算厚度,满足多样化测量需求

宽光斑范围

光斑尺寸可从0.2mm至1.5mm超宽动态调节,适应不同样品尺寸

Vista Learning算法

专为测量表面非常粗糙且极厚的应用场景设计的智能算法

高反射率样品

具备测量高反射率与低反射率样品的强大能力

技术规格

详细的技术参数,助您全面了解NS-Vista的性能指标

测量性能

测量通道 反射通道 + 透射通道
测量范围 1nm - 1mm
测量精度 ±0.1nm
光斑尺寸范围 0.2mm - 1.5mm
样品适用性 高反射率/低反射率样品

样品规格

最大样品尺寸 300mm × 300mm
样品厚度 0.1mm - 20mm
透光样品支持 支持
粗糙表面测量 支持(Vista Learning)
极厚样品测量 支持(Vista Learning)

软件功能

双通道数据同步采集
Vista Learning智能算法
反射率与透射率联用分析
玻璃基底膜厚测量
数据导出与报告生成

设备配置

设备类型 桌面式
电源要求 AC 220V / 50Hz
工作环境温度 15°C - 30°C
相对湿度 < 80%RH
设备重量 约15kg

应用领域

NS-Vista凭借其独特优势,广泛应用于各类复杂样品测量场景

玻璃基底薄膜

玻璃基底上的光学镀膜、涂层厚度测量,克服玻璃高反射率带来的测量困难。

粗糙表面样品

Vista Learning算法专门针对表面粗糙、散射严重的样品进行优化测量。

透光薄膜材料

同时利用反射和透射通道测量透明或半透明薄膜材料,获得更全面的数据。

准备好升级您的测量方案了吗?

联系我们获取NS-Vista双通道膜厚仪的详细方案和报价,我们的技术人员将为您提供一对一咨询服务。