便携式精密膜厚测量解决方案

NS-Touch
曲面测量膜厚仪

便携与精密平衡兼顾，随时随地实现薄膜厚度精确测量。轻量化设计，单手操作，适合现场快速检测和移动应用场景。

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NS-Touch 曲面测量膜厚仪

核心特性

专为曲面样品和现场测量设计的NS-Touch曲面测量膜厚仪，兼具便携性与高精度

曲面测量

可测量弯曲表面的纳米级到微米级膜厚，适用于车灯、眼镜、光学镜片等曲面产品的膜层检测

纳米级精度

采用先进光谱干涉技术，测量精度可达±0.2nm，重复性优于0.05nm

快速测量

单点测量时间小于0.5秒，支持连续测量模式

应用领域

广泛应用于半导体、光学镀膜、科研等高端领域

现场质量检测

  • 生产线在线巡检
  • 来料快速检验
  • 成品出货抽检

光学薄膜

  • AR/VR光学镀膜检测
  • 眼镜片镀膜检测
  • 滤光片厚度均匀性

科研院所

  • 二维材料厚度测量
  • 实验室样品分析
  • 现场教学演示

技术规格

专业级技术参数，满足各种精密测量场景的需求

测量性能

测量范围 1nm - 500μm
测量精度 ±0.2nm
重复性 0.05nm (1σ)
测量速度 <0.5秒/点
测量点直径 50μm - 5mm可选
基底材料 透明/不透明材料

硬件规格

电池续航 8小时连续工作
充电接口 USB-C 快充
整机重量 350g
外形尺寸 180×80×40mm

软件功能

实时测量数据显示
统计分析与图表显示
多语言界面支持
自定义测量模板
配套PC端数据分析软件

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