NS-Flex集成了悉识科技多项创新技术，为柔性材料和复杂曲面提供完整的膜厚测量解决方案
专为柔性材料设计，可测量曲面、弯曲和不规则形状基底上的薄膜
测量精度可达±0.3nm，在复杂表面上保持出色的测量稳定性
单点测量仅需2秒，支持大面积柔性样品的快速扫描
配备多种可更换探头，适应不同曲率和材料特性的测量需求
NS-Flex便携多模态膜厚仪的详细技术规格
| 参数项 | 规格 |
|---|---|
| 测量原理 | 白光干涉法 |
| 测量范围 | 1nm - 15μm |
| 测量精度 | ±0.3nm |
| 重复性 | ±0.2nm |
| 测量速度 | 2秒/点 |
| 光斑尺寸 | 15μm - 80μm |
| 曲率半径范围 | 5mm - ∞ (平面) |
| 设备尺寸 | 280mm × 220mm × 320mm |
| 重量 | 约8kg |
| 接口 | USB 3.0, Ethernet, WiFi |
NS-Flex便携多模态膜厚仪广泛应用于各种柔性材料、复杂曲面、固态和液态薄膜的测量场景
测量柔性OLED、柔性太阳能电池等柔性电子产品中的薄膜厚度，支持柔性显示技术研发。
测量透镜、棱镜等光学元件曲面表面的镀膜厚度，确保光学性能符合设计要求。
测量植入式医疗器械、生物传感器等生物医学器件表面的涂层和薄膜厚度。
