NS-Micro集成了悉识科技多项创新技术，为有限空间环境提供完整的膜厚测量解决方案
体积仅为传统设备的1/3，轻松集成到各类有限空间环境
测量精度可达±0.5nm，在紧凑体积中保持出色性能
单点测量仅需1秒，支持连续快速扫描测量
提供丰富的SDK和API，方便与自动化产线或其他设备集成
NS-Micro显微膜厚仪提供四种不同波段配置，满足各种应用需求
NS-Micro提供出色的光斑尺寸灵活性，从1μm到100μm可调
最小光斑尺寸，适合微纳结构和微小区域测量
光斑尺寸可调，满足不同应用场景的测量需求
最大光斑尺寸，适合较大面积均匀性测量
NS-Micro显微膜厚仪广泛应用于各种需要紧凑测量方案的场景
为空间有限的研发实验室提供高精度膜厚测量能力，支持新材料研发和工艺优化。
适合高校和职业教育机构用于教学演示，让学生直观了解薄膜测量技术原理。
可集成到自动化生产线上，对关键工艺点进行实时膜厚监测和质量控制。
