ES-Primo 椭偏仪
高端椭圆偏振光谱仪，采用先进的偏振调制技术，适用于纳米级薄膜的精确测量。可同时测量薄膜厚度和光学常数（n, k），为科学研究提供最精准的数据。已成功应用于多个科研项目。
- 纳米级精度，厚度测量精度±0.01nm
- 椭圆偏振技术，可同时测量厚度和光学常数
- 多层膜分析，支持最多50层膜
- 高端科研应用，适用于半导体、光学、材料科学等领域
- 可与AFM、拉曼光谱等联用
NS-20 手动测厚
悉识科技自主研发的反射式显微膜厚测量分析系统，采用白光干涉技术，实现非接触、无损的纳米级膜厚测量。适用于实验室科研环境，从基础研究到前沿探索的全方位解决方案。
- 测量范围：10nm - 200μm（可扩展至1000μm）
- 测量精度：±0.1nm（单层膜），±0.5nm（多层膜）
- 重复性精度：0.01nm（100次标准差）
- 支持最多50层膜厚分析
- 便携式设计，适用于实验室科研环境
NS-Vista 双通道
双通道高精度膜厚测量系统，采用双光路设计，可同时进行参考测量和样品测量，显著提高测量精度和稳定性。适用于复杂多层膜的科研分析。
- 双通道设计，参考通道和测量通道独立
- 高精度测量，精度可达±0.05nm
- 多层膜分析，支持最多50层膜
- 测量范围：10nm - 200μm
- 支持同时测量光学常数（n, k）
NS-Flex 便携多模态
便携式多模态膜厚测量仪，集成了多种测量模式，适用于各种科研场景。从实验室到野外，从基础研究到应用探索，提供灵活的测量解决方案。
- 便携式设计，支持手持和台式两种模式
- 多模态测量，支持反射、透射、椭偏等多种模式
- 高精度科研级，精度可达±0.1nm
- 测量范围：10nm - 200μm
- 支持最多50层膜厚分析