多点纳米膜厚传感器
为工业自动化集成设计的膜厚传感器模块，7月21日已完成向海外头部光学企业的首台交付。可轻松嵌入生产线，实现在线实时监测，支持SECS/GEM通信协议。
- 小巧体积设计，仅手掌大小
- 易于集成，支持多种工业通信协议
- 实时在线监测，响应时间<100ms
- 工业级稳定性，支持7×24小时连续运行
- 测量范围：10nm - 200μm
NS-HR 厚膜传感器
专为厚膜测量设计的工业传感器，采用多波段光源和优化算法，可对100μm至1000μm的厚膜进行精准测量，适用于涂层、复合材料等厚膜应用场景的在线监测。
- 宽测量范围：10nm - 1000μm（厚膜模式）
- 高精度厚膜测量，精度可达±1nm
- 工业集成设计，支持多种安装方式
- 实时数据输出，支持模拟量和数字量输出
- 多波段光源，适应不同材料
NS-Micro 显微膜厚传感器
专为微观尺度测量设计的显微膜厚传感器，采用高精度光学显微系统，可对微小区域进行精确膜厚测量，适用于显微镜集成、芯片检测、微纳器件等精密测量场景。
- 显微精确定位，支持微米级测量区域
- 高精度测量，精度可达±0.5nm
- 兼容显微镜集成，可搭配多种显微镜使用
- 实时数据采集，支持多种数据接口
- 测量范围：1nm - 100μm