我们信守承诺，坚守本心，绝不在品质上放松要求
专业的研发团队
近10年膜厚测量设备研发经验，专业与光学量检测
超强的设备稳定性
稳定测量，直击靶心
定制化算法场景
强大的算法赋能多种应用场景
积极的售后服务
好设备需要更好的售后服务，让膜厚测量不再困难
垂直反射式薄膜厚度测量方案，原理简单，操作便捷，可测量一纳米到一毫米厚度范围的单层或多层厚度。
椭圆偏振薄膜厚度测量方案，精度更高，可测量亚纳米到15微米厚度范围的单层或多层厚度及折射率、消光系数。
悉识科技为半导体、智能汽车、光电产业、学术机构提供高精度膜厚测量方案
2026 年 1 月 14 日，T/CIET 2298-2026《薄膜干涉膜厚测量系统校准规范》由中国国际经济技术合作促进会正式发布并实施。该规范面向分光干涉式薄膜干涉膜厚测量系统，明确了计量特性、校准条件、校准项目、校准方法及结果表达等技...
摘要 3月18 日，2026慕尼黑上海光博会在上海开幕。悉识科技携NS‑20封装涂层无损测厚仪亮相，聚焦半导体先进封装检测痛点，以非接触、微区光斑、多层膜解析等核心技术，实现高精度、无损、智能化膜厚测量，展示国产光学精密测量装备的创新突破与...
尊敬的行业同仁与合作伙伴： 悉识科技诚邀您参加2026年3月18-20日在上海新国际博览中心盛大召开的慕尼黑上海光博会。届时，悉识科技将携自主研发的多款核心光学量测产品与高精度解决方案重磅亮相。我们竭诚欢迎您莅临悉识科技展台（E7.7808...
2025年10月，悉识科技正式荣获江苏省“科技型中小企业”认定。这一荣誉不仅是对悉识科技在高端光学膜厚测量领域技术创新能力的高度肯定，也标志着其在推动国产精密仪器自主化、智能化方面迈出了坚实一步。 悉识科技成立于2024年，由来自加州大学伯...
悉光识天地，洞察微纳间
悉识科技由来自伯克利、复旦大学、上海交通大学、上海科技大学等多位博士和硕士创立，团队深耕半导体设备、智能制造、高精度测量技术多年，拥有丰富的研发和产业经验。
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