2026年1月14日，T/CIET 2298-2026《薄膜干涉膜厚测量系统校准规范》由中国国际经济技术合作促进会正式发布并实施。该规范面向分光干涉式薄膜干涉膜厚测量系统，明确了计量特性、校准条件、校准项目、校准方法及结果表达等技术要求，为行业提供了统一的校准标准。
悉识科技作为国内专业的膜厚测量设备制造商，受邀参与了该规范的起草工作。凭借在光学精密测量领域多年的技术积累和实践经验，悉识科技为规范的制定提供了重要的技术支持和专业建议。
规范意义
该规范的发布实施，将有效提升薄膜干涉膜厚测量系统的校准规范化水平，保障测量结果的准确性和可靠性，为半导体、光伏、光学镀膜等行业的发展提供有力的计量技术支撑。
未来，悉识科技将继续发挥技术优势，积极参与行业标准制定工作，推动国产高端膜厚测量技术的标准化、产业化进程，为中国精密测量领域的发展贡献力量。