NS-Vista 是一款技术先进的桌面薄膜厚度测量与分析系统。它具备同时测量反射率和透射率的能力，在测量高反射率或低反射率的样本时极为强大。此外，Vista Learning算法专为测量表面非常粗糙且极厚的应用场景设计。反射通道的光斑尺寸可轻松从 1.5 毫米调节至 0.2 毫米，这大大拓展了厚度测量的应用范围。作为一款桌面设备，NS-Vista 代表了该领域的先进技术。
NS-Vista 特色
•双通道同时测量反射率与透射率，皆可结算厚度
•测量高反射率与低反射率样品能力，玻璃基底的膜厚测量不再难
•0.2mm到1.5mm光斑超宽动态调整范围
•Vista Learning 算法专为测量表面非常粗糙且极厚的应用场景设计
