纳米级厚度精密测量，软硬件全流程自主研发
提供超预期、高品质的服务是我们的不懈追求
更专业的团队与运营机制，为您提供精准服务
自研先进算法保证膜厚测量精度
我们信守承诺，坚守本心，绝不在品质上放松要求
专业的研发团队
近10年膜厚测量设备研发经验，专业与光学量检测
超强的设备稳定性
稳定测量，直击靶心
定制化算法场景
强大的算法赋能多种应用场景
积极的售后服务
好设备需要更好的售后服务，让膜厚测量不再困难
垂直反射式薄膜厚度测量方案，原理简单，操作便捷，可测量一纳米到一毫米厚度范围的单层或多层厚度。
悉光识天地，洞察微纳间
悉识科技由来自伯克利、复旦大学、上海交通大学、上海科技大学等多位博士和硕士创立，团队深耕半导体设备、智能制造、高精度测量技术多年，拥有丰富的研发和产业经验。
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