NS-Touch 弯曲表面膜厚仪（手持）

NS-Touch 系列是一种先进的手持式薄膜测量系统，具有显著的价格优势。能够在几秒钟内快速分析薄膜的反射光谱数据，并分析单层和多层薄膜的厚度。专用的手持式探头方便测量诸如眼镜、车灯等弯曲表面。

抗反射涂层厚度测量（AR Coating）

操作便捷：测量弧面眼镜上的减反射膜以及其他光学镜片上的减反射膜。

硬化膜厚度测量（Hard Coating）

可以同时测量硬涂层和底漆层的厚度。

疏水层厚度测量 (Hydrophobic Layer)

疏水层非常薄，大约只有一百个原子的厚度，因此需要使用短波长的紫外线来进行最精确的测量。

NS-Touch 特色

NS-Touch系列 参数规格

型号	NS-TouchUV	NS-Touch	NS-Touch NIR
波长范围	190 nm – 1100 nm	380 nm – 1050 nm	950 nm – 1700 nm
厚度测量范围1	0.02 μm – 40 μm	0.05 μm – 80 μm	0.1 μm – 250 μm
准确度2	0.01 μm or 0.2%	0.01 μm or 0.2%	0.02 μm or 0.4%
精度3	0.001 μm	0.001 μm	0.002 μm
稳定性4	0.001 μm	0.001 μm	0.002 μm
光斑大小	100 μm	100 μm	100 μm
测量速度	< 1s（单次测量）	< 1s（单次测量）	< 1s（单次测量）
光源	卤钨灯 + 氘灯	卤钨灯	卤钨灯
样品尺寸	直径从1mm 到 300mm或更大	直径从1mm 到 300mm或更大	直径从1mm 到 300mm或更大

1 取决于具体材料

2 Si/SiO2(500~1000nm)标样片

3 计算100次测量500nm SiO2标准片的1倍标准偏差，对20个有效测量日的1倍标准偏差取平均

4 计算100次测量500nm SiO2标准片的平均值，对20个有效测量日的平均值做2倍标准偏差

NS-Touch测量示例，镜片上的减反射涂层（AR coating) 膜厚测量

NS-Touch重复精度示例，镜片上的硬化膜涂层（Hard coating) 膜厚测量稳定性1-sigma标准偏差小于0.001微米。