悉识科技首台NS-OEM膜厚测量仪出口海外头部光学企业

7 月 21日，悉识科技完全自主研发的 NS-OEM 膜厚测量仪已完成向海外头部光学企业的首台交付并顺利发运。这是 NS-OEM 产品系列首次进入海外市场，代表国产高端膜厚量测设备获得国际一线客户认可。（访问NS-OEM详细介绍： 悉识科技NS-OEM）

产品亮点

• 测量范围：1 nm – 1 mm 全量程覆盖，典型准确度 2 nm 或 0.2 %，静态重复精度 0.02 nm
• 超快在线速度：单次测量 < 1 s，可 7×24 h 连续运行，满足高速产线节拍；F1算法更是可以将测量单点速度提升到1ms
• 紧凑光学探头：支持真空腔室、原位生长腔室等受限空间安装
• 宽波段选择：190 – 2500 nm 多波段配置，兼容金属氧化物、氮化物、高分子等复杂光学薄膜
• 光纤柔性连接：可灵活定制，便于产线灵活布局
• 聚焦实时反馈：针对集成设备中探头的聚焦状态进行实时反馈，始终保持最佳信号状态

算法优势

悉识科技 100 % 自研的 PolarX 分析引擎集成了大量实用核心算法：

1. AutoCal 自动校准：开机即用，消除光强漂移，减少人工干预，真空中不再需要频繁开腔校准
2. F1纳米膜厚算法：毫秒级纳米膜厚测量，一秒测量数百次
3. 多层膜厚度分析：一键解析多层复合膜系各层厚度与折射率
4. 复杂基底测量算法：特殊的透明基底也可以准确测量纳米级膜层厚度
5. 更多算法技术请联系悉识技术专家

凭借以上性能与算法优势，NS-OEM可帮助客户在 AR 镀膜、滤光片、精密光学元件、导电膜等场景中实现纳米级厚度监控，显著提升良率与一致性。

关于悉识科技

悉识科技由美国加州大学伯克利分校、复旦大学、上海交通大学、上海科技大学等知名学府的博士和硕士联合创立。公司专注于光学无损膜厚测量技术、椭圆偏振测量技术等光学测量技术的研发与应用，致力于为客户提供高精度、高稳定性、高易用性的测量仪器及解决方案。产品线涵盖桌面式膜厚仪、真空膜厚仪、手持式膜厚仪以及高速线扫膜厚仪等多种设备，广泛应用于半导体、材料科学、精密制造和科研领域。

悉识科技官方网站：https://www.acuitik.com

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