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English与XRR（X射线反射率）仪器对比，半透明基底上数个纳米的超薄厚度，悉识科技的反射式膜厚仪的测量偏差在1纳米以内，这得益于悉识科技的高稳定性算法与光学方案。
原子层沉积ALD（点击查看） 悉识科技的膜厚仪具备离线和在线原位两种测量模式。离线测量可在生产过程结束后，对 ALD 沉积薄膜进行全面、细致的厚度检测，为质量控制和工艺优化提供关键数据支持。
化学气相沉积CVD（点击查看） 单层、多层的介质薄膜厚度测量。悉识科技的膜厚监测解决方案为 CVD 工艺的优化和薄膜质量的提升提供了有力支持，助力推动相关产业的持续发展和技术创新。
阻挡层厚度（Barrier Layer)（点击查看） 氮化钛（TiN）、氮化钽（TaN）、二氧化钛（TiO₂）层等工艺制程的厚度监测
